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TriStarII3020新一代全自动比表面积和孔隙度分析仪由美国 Micromeritics公司制造，可同时进行三个样品的分析从而提高分析效率，提供全吸附、脱附曲线、BET及 Langmuir比表面、平均孔尺寸和单点总孔体积、BJH中孔、大孔体积、面积分布、总孔体积、de Boer t-plot数据处理微孔体积和表面积，厚度公式、αs-plot和f-ratio法、MP法。歧管和三个样品分析站分别配有独立的传感器，可以同时精确的测量三个样品，PO管同样拥有独立的压力传感器。软件配备自检系统，方便用户自行检测仪器选配的分子涡轮泵以及10mmHg可以将仪器升级到微孔单元。 主要技术参数：比表面测量范围为氮气吸附0.01m2/g 至无上限，氪气吸附0.0001m2/g 至无上限；孔径分析范围：3.5 埃～5000 埃；测量5点BET 比表面仅需20分钟；重复性优于1％；真正的三站同时测量，每个分析站均有独立的高精度压力传感器；新的软件字幕，以太网口连接主机和电脑的通讯数据线，内置电子检测点和强大的仪器自诊断功能；可升级至微孔单元，选配的分子涡轮泵和10mmHg高精度压力传感器；多种样品制备系统可选。 |