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JEM-2100F高分辨透射电子显微镜由日本电子株式会社制造，主要用于分析测试材料的微区明场、暗场像及高分辨TEM像、高分辨原子序数像，以及选区电子衍射、会聚束电子衍射和纳米束电子衍射等。附带EDS能谱分析系统还可获得材料微区元素点、线、面分布等数据。是系统研究结构材料、功能材料的重要分析测试手段，在材料领域的诸多方向均具有广阔的应用前景和重要地位。 设备主要参数范围：分辨率：点分辨率：0.19nm；晶格分辨率：0.1nm；STEM分辨率：0.2nm。放大倍数：50´-1.5M´。会聚角：1.5-20mrad。样品台移动：平移：X:2mm, Y:2mm, Z: ±0.1mm；倾转：T:±25°。 |